Для відвідувачів Electronica 2024

Забронюйте свій час зараз!

Все, що потрібно, - це кілька кліків, щоб зарезервувати своє місце та отримати квиток на стенду

Зал С5 Бут 220

Попередня реєстрація

Для відвідувачів Electronica 2024
Ви всі зареєструвались! Дякуємо за зустріч!
Ми надішлемо вам квитки на стенд електронною поштою, як тільки ми перевіримо ваше бронювання.
Будинок > Продукти > Інтегральні схеми (мікросхеми) > Логіка - Спеціальна логіка > SN74BCT8374ADWR
RFQs/замовлення (0)
Україна
Україна
710480

SN74BCT8374ADWR

Запит запиту

Будь ласка, заповніть усі необхідні поля за допомогою вашої контактної інформації.Або електронною поштою нам:info@ftcelectronics.com
Запит онлайн
Технічні характеристики
  • Номер частини
    SN74BCT8374ADWR
  • Виробник / марка
  • Кількість запасів
    В наявності
  • Опис
    IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC
  • Статус безкоштовного статусу / RoHS
    Без свинцю / RoHS відповідність
  • Напруга живлення
    4.5 V ~ 5.5 V
  • Пакет пристрою постачальника
    24-SOIC
  • Серія
    74BCT
  • Упаковка
    Tape & Reel (TR)
  • Пакет / Корпус
    24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
  • Робоча температура
    0°C ~ 70°C
  • Кількість бітів
    8
  • Тип монтажу
    Surface Mount
  • Рівень чутливості вологи (MSL)
    1 (Unlimited)
  • Тип логіки
    Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
  • Статус безкоштовного статусу / RoHS
    Lead free / RoHS Compliant
  • Детальний опис
    Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops IC 24-SOIC
  • Номер базової частини
    74BCT8374
SN74BCT8374ANTG4

SN74BCT8374ANTG4

Опис: IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP

Виробники: Luminary Micro / Texas Instruments
В наявності
SN74CB3Q16211DGGR

SN74CB3Q16211DGGR

Опис: IC SW BUS 24BIT FET 56-TSSOP

Виробники: Luminary Micro / Texas Instruments
В наявності
SN74BCT8373ADW

SN74BCT8373ADW

Опис: IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC

Виробники: Luminary Micro / Texas Instruments
В наявності
SN74BCT8374ADW

SN74BCT8374ADW

Опис: IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC

Виробники: Luminary Micro / Texas Instruments
В наявності
SN74CB3Q16210DLR

SN74CB3Q16210DLR

Опис: IC SWITCH BUS 20BIT FET 48-SSOP

Виробники: Luminary Micro / Texas Instruments
В наявності
SN74BCT8245ADW

SN74BCT8245ADW

Опис: IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-SOIC

Виробники: Luminary Micro / Texas Instruments
В наявності
SN74BCT8245ADWR

SN74BCT8245ADWR

Опис: IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-SOIC

Виробники: Luminary Micro / Texas Instruments
В наявності
SN74BCT8374ANT

SN74BCT8374ANT

Опис: IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP

Виробники: Luminary Micro / Texas Instruments
В наявності
SN74CB3Q16210DGGR

SN74CB3Q16210DGGR

Опис: IC SWITCH BUS 20BIT FET 48-TSSOP

Виробники: Luminary Micro / Texas Instruments
В наявності
SN74CB3Q16210DGVR

SN74CB3Q16210DGVR

Опис: IC SWITCH BUS 20BIT FET 48-TVSOP

Виробники: Luminary Micro / Texas Instruments
В наявності
SN74BCT8245ANTG4

SN74BCT8245ANTG4

Опис: IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-DIP

Виробники: Luminary Micro / Texas Instruments
В наявності
SN74BCT8373ADWRE4

SN74BCT8373ADWRE4

Опис: IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC

Виробники: Luminary Micro / Texas Instruments
В наявності
SN74CB3Q16211DGVR

SN74CB3Q16211DGVR

Опис: IC SW BUS 24BIT FET 56-TVSOP

Виробники: Luminary Micro / Texas Instruments
В наявності
SN74BCT8374ADWRG4

SN74BCT8374ADWRG4

Опис: IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC

Виробники: Luminary Micro / Texas Instruments
В наявності
SN74BCT8245ANT

SN74BCT8245ANT

Опис: IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-DIP

Виробники: Luminary Micro / Texas Instruments
В наявності
SN74BCT8373ADWR

SN74BCT8373ADWR

Опис: IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC

Виробники: Luminary Micro / Texas Instruments
В наявності
SN74BCT8373ADWRG4

SN74BCT8373ADWRG4

Опис: IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC

Виробники: Luminary Micro / Texas Instruments
В наявності
SN74CB3Q16210DL

SN74CB3Q16210DL

Опис: IC SWITCH BUS FET 20BIT 48-SSOP

Виробники: Luminary Micro / Texas Instruments
В наявності
SN74BCT8374ADWRE4

SN74BCT8374ADWRE4

Опис: IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC

Виробники: Luminary Micro / Texas Instruments
В наявності
SN74BCT8373ANT

SN74BCT8373ANT

Опис: IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24-DIP

Виробники: Luminary Micro / Texas Instruments
В наявності

Оберіть мову

Клацніть на простір, щоб вийти