Для відвідувачів Electronica 2024

Забронюйте свій час зараз!

Все, що потрібно, - це кілька кліків, щоб зарезервувати своє місце та отримати квиток на стенду

Зал С5 Бут 220

Попередня реєстрація

Для відвідувачів Electronica 2024
Ви всі зареєструвались! Дякуємо за зустріч!
Ми надішлемо вам квитки на стенд електронною поштою, як тільки ми перевіримо ваше бронювання.
Будинок > Продукти > Інтегральні схеми (мікросхеми) > Логіка - Спеціальна логіка > SN74BCT8245ANT
RFQs/замовлення (0)
Україна
Україна
891821

SN74BCT8245ANT

Запит запиту

Будь ласка, заповніть усі необхідні поля за допомогою вашої контактної інформації.Або електронною поштою нам:info@ftcelectronics.com
Запит онлайн
Технічні характеристики
  • Номер частини
    SN74BCT8245ANT
  • Виробник / марка
    Luminary Micro/Texas Instruments
  • Кількість запасів
    В наявності
  • Опис
    IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-DIP
  • Статус безкоштовного статусу / RoHS
    Без свинцю / RoHS відповідність
  • Напруга живлення
    4.5 V ~ 5.5 V
  • Пакет пристрою постачальника
    24-PDIP
  • Серія
    74BCT
  • Упаковка
    Tube
  • Пакет / Корпус
    24-DIP (0.300", 7.62mm)
  • Робоча температура
    0°C ~ 70°C
  • Кількість бітів
    8
  • Тип монтажу
    Through Hole
  • Рівень чутливості вологи (MSL)
    1 (Unlimited)
  • Тип логіки
    Scan Test Device with Bus Transceivers
  • Статус безкоштовного статусу / RoHS
    Lead free / RoHS Compliant
  • Детальний опис
    Scan Test Device with Bus Transceivers IC 24-PDIP
  • Номер базової частини
    74BCT8245

Unleashing High-Performance DSP: A Deep Dive into TI TMS320...

2024/11/15

Texas Instruments: An all-round player from analog to embedded

2024/11/14
Доставка
Оплата
Далі - продукти, пов'язані з "SN74BCT8245ANT".
SN74BCT8373ADWRE4

SN74BCT8373ADWRE4

Опис: IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC

Виробники: Luminary Micro / Texas Instruments
В наявності
RFQ
SN74BCT8373ANT

SN74BCT8373ANT

Опис: IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24-DIP

Виробники: Luminary Micro / Texas Instruments
В наявності
RFQ
SN74BCT8373ADWR

SN74BCT8373ADWR

Опис: IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC

Виробники: Luminary Micro / Texas Instruments
В наявності
RFQ
SN74BCT8374ADWR

SN74BCT8374ADWR

Опис: IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC

Виробники: Luminary Micro / Texas Instruments
В наявності
RFQ
SN74BCT8245ADW

SN74BCT8245ADW

Опис: IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-SOIC

Виробники: Luminary Micro / Texas Instruments
В наявності
RFQ
SN74BCT8373ADWRG4

SN74BCT8373ADWRG4

Опис: IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC

Виробники: Luminary Micro / Texas Instruments
В наявності
RFQ
SN74BCT8244ANTG4

SN74BCT8244ANTG4

Опис: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP

Виробники: Luminary Micro / Texas Instruments
В наявності
RFQ
SN74BCT8374ADWRE4

SN74BCT8374ADWRE4

Опис: IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC

Виробники: Luminary Micro / Texas Instruments
В наявності
RFQ
SN74BCT8244ADWR

SN74BCT8244ADWR

Опис: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC

Виробники: Luminary Micro / Texas Instruments
В наявності
RFQ
SN74BCT8240ANT

SN74BCT8240ANT

Опис: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP

Виробники: Luminary Micro / Texas Instruments
В наявності
RFQ
SN74BCT8374ADWRG4

SN74BCT8374ADWRG4

Опис: IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC

Виробники: Luminary Micro / Texas Instruments
В наявності
RFQ
SN74BCT8245ANTG4

SN74BCT8245ANTG4

Опис: IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-DIP

Виробники: Luminary Micro / Texas Instruments
В наявності
RFQ
SN74BCT8373ADW

SN74BCT8373ADW

Опис: IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC

Виробники: Luminary Micro / Texas Instruments
В наявності
RFQ
SN74BCT8244ANT

SN74BCT8244ANT

Опис: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP

Виробники: Luminary Micro / Texas Instruments
В наявності
RFQ
SN74BCT8240ADWRG4

SN74BCT8240ADWRG4

Опис: IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC

Виробники: Luminary Micro / Texas Instruments
В наявності
RFQ
SN74BCT8244ADWE4

SN74BCT8244ADWE4

Опис: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC

Виробники: Luminary Micro / Texas Instruments
В наявності
RFQ
SN74BCT8245ADWR

SN74BCT8245ADWR

Опис: IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-SOIC

Виробники: Luminary Micro / Texas Instruments
В наявності
RFQ
SN74BCT8244ADW

SN74BCT8244ADW

Опис: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC

Виробники: Luminary Micro / Texas Instruments
В наявності
RFQ
SN74BCT8240ANTG4

SN74BCT8240ANTG4

Опис: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP

Виробники: Luminary Micro / Texas Instruments
В наявності
RFQ
SN74BCT8374ADW

SN74BCT8374ADW

Опис: IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC

Виробники: Luminary Micro / Texas Instruments
В наявності
RFQ
Як єдиний дистриб'ютор відкритих ринку публічного ринку, ми володіємо унікальним поєднанням глобального доступу, досвіду виробничої галузі та перевіреної якості.Завдяки цьому ми можемо створити індивідуальні рішення ланцюга поставок для електронних компонентів для пошуку електроніки та управління запасами.
Слідуй за нами
Загальні положення та умовиПолітика порушенняЗапитайте цитатуПро насЗв'яжіться з намиКарта сайту

Оберіть мову

Клацніть на простір, щоб вийти

Поточна мова

Виберіть свою країну чи регіон.