Для відвідувачів Electronica 2024

Забронюйте свій час зараз!

Все, що потрібно, - це кілька кліків, щоб зарезервувати своє місце та отримати квиток на стенду

Зал С5 Бут 220

Попередня реєстрація

Для відвідувачів Electronica 2024
Ви всі зареєструвались! Дякуємо за зустріч!
Ми надішлемо вам квитки на стенд електронною поштою, як тільки ми перевіримо ваше бронювання.
Будинок > Продукти > Інтегральні схеми (мікросхеми) > Логіка - Спеціальна логіка > SN74BCT8240ADWR
RFQs/замовлення (0)
Україна
Україна
6155504

SN74BCT8240ADWR

Запит запиту

Будь ласка, заповніть усі необхідні поля за допомогою вашої контактної інформації.Або електронною поштою нам:info@ftcelectronics.com
Запит онлайн
Технічні характеристики
  • Номер частини
    SN74BCT8240ADWR
  • Виробник / марка
  • Кількість запасів
    В наявності
  • Опис
    IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC
  • Статус безкоштовного статусу / RoHS
    Без свинцю / RoHS відповідність
  • Напруга живлення
    4.5 V ~ 5.5 V
  • Пакет пристрою постачальника
    24-SOIC
  • Серія
    74BCT
  • Упаковка
    Tape & Reel (TR)
  • Пакет / Корпус
    24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
  • Робоча температура
    0°C ~ 70°C
  • Кількість бітів
    8
  • Тип монтажу
    Surface Mount
  • Рівень чутливості вологи (MSL)
    1 (Unlimited)
  • Тип логіки
    Scan Test Device with Inverting Buffers
  • Статус безкоштовного статусу / RoHS
    Lead free / RoHS Compliant
  • Детальний опис
    Scan Test Device with Inverting Buffers IC 24-SOIC
  • Номер базової частини
    74BCT8240
SN74BCT8244ANTG4

SN74BCT8244ANTG4

Опис: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP

Виробники: Luminary Micro / Texas Instruments
В наявності
SN74BCT8245ADW

SN74BCT8245ADW

Опис: IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-SOIC

Виробники: Luminary Micro / Texas Instruments
В наявності
SN74BCT8240ANT

SN74BCT8240ANT

Опис: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP

Виробники: Luminary Micro / Texas Instruments
В наявності
SN74BCT760DW

SN74BCT760DW

Опис: IC BUF NON-INVERT 5.5V 20SOIC

Виробники: Luminary Micro / Texas Instruments
В наявності
SN74BCT760N

SN74BCT760N

Опис: IC BUF NON-INVERT 5.5V 20DIP

Виробники: Luminary Micro / Texas Instruments
В наявності
SN74BCT8244ADWR

SN74BCT8244ADWR

Опис: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC

Виробники: Luminary Micro / Texas Instruments
В наявності
SN74BCT8240ADWRE4

SN74BCT8240ADWRE4

Опис: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC

Виробники: Luminary Micro / Texas Instruments
В наявності
SN74BCT760DWRG4

SN74BCT760DWRG4

Опис: IC BUF NON-INVERT 5.5V 20SOIC

Виробники: Luminary Micro / Texas Instruments
В наявності
SN74BCT8244ANT

SN74BCT8244ANT

Опис: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP

Виробники: Luminary Micro / Texas Instruments
В наявності
SN74BCT8244ADWE4

SN74BCT8244ADWE4

Опис: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC

Виробники: Luminary Micro / Texas Instruments
В наявності
SN74BCT757N

SN74BCT757N

Опис: IC BUF NON-INVERT 5.5V 20DIP

Виробники: Luminary Micro / Texas Instruments
В наявності
SN74BCT760DWG4

SN74BCT760DWG4

Опис: IC BUF NON-INVERT 5.5V 20SOIC

Виробники: Luminary Micro / Texas Instruments
В наявності
SN74BCT760DWR

SN74BCT760DWR

Опис: IC BUF NON-INVERT 5.5V 20SOIC

Виробники: Luminary Micro / Texas Instruments
В наявності
SN74BCT757DWRG4

SN74BCT757DWRG4

Опис: IC BUF NON-INVERT 5.5V 20SOIC

Виробники: Luminary Micro / Texas Instruments
В наявності
SN74BCT8240ADW

SN74BCT8240ADW

Опис: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC

Виробники: Luminary Micro / Texas Instruments
В наявності
SN74BCT8240ANTG4

SN74BCT8240ANTG4

Опис: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP

Виробники: Luminary Micro / Texas Instruments
В наявності
SN74BCT760NSR

SN74BCT760NSR

Опис: IC BUFFER NON-INVERT 5.5V 20SO

Виробники: Luminary Micro / Texas Instruments
В наявності
SN74BCT8244ADW

SN74BCT8244ADW

Опис: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC

Виробники: Luminary Micro / Texas Instruments
В наявності
SN74BCT8240ADWRG4

SN74BCT8240ADWRG4

Опис: IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC

Виробники: Luminary Micro / Texas Instruments
В наявності
SN74BCT760MDWREP

SN74BCT760MDWREP

Опис: IC BUF NON-INVERT 5.5V 20SOIC

Виробники: Luminary Micro / Texas Instruments
В наявності

Оберіть мову

Клацніть на простір, щоб вийти