Для відвідувачів Electronica 2024

Забронюйте свій час зараз!

Все, що потрібно, - це кілька кліків, щоб зарезервувати своє місце та отримати квиток на стенду

Зал С5 Бут 220

Попередня реєстрація

Для відвідувачів Electronica 2024
Ви всі зареєструвались! Дякуємо за зустріч!
Ми надішлемо вам квитки на стенд електронною поштою, як тільки ми перевіримо ваше бронювання.
Будинок > Продукти > Інтегральні схеми (мікросхеми) > Логіка - Спеціальна логіка > SN74ABT8652DLRG4
RFQs/замовлення (0)
Україна
Україна
6514908

SN74ABT8652DLRG4

Запит запиту

Будь ласка, заповніть усі необхідні поля за допомогою вашої контактної інформації.Або електронною поштою нам:info@ftcelectronics.com
Запит онлайн
Технічні характеристики
  • Номер частини
    SN74ABT8652DLRG4
  • Виробник / марка
  • Кількість запасів
    В наявності
  • Опис
    IC SCAN TEST DEVICE 28-SSOP
  • Статус безкоштовного статусу / RoHS
    Без свинцю / RoHS відповідність
  • Напруга живлення
    4.5 V ~ 5.5 V
  • Пакет пристрою постачальника
    28-SSOP
  • Серія
    74ABT
  • Упаковка
    Tape & Reel (TR)
  • Пакет / Корпус
    28-BSSOP (0.295", 7.50mm Width)
  • Робоча температура
    -40°C ~ 85°C
  • Кількість бітів
    8
  • Тип монтажу
    Surface Mount
  • Рівень чутливості вологи (MSL)
    1 (Unlimited)
  • Тип логіки
    Scan Test Device with Bus Transceiver and Registers
  • Статус безкоштовного статусу / RoHS
    Lead free / RoHS Compliant
  • Детальний опис
    Scan Test Device with Bus Transceiver and Registers IC 28-SSOP
  • Номер базової частини
    74ABT8652
SN74ABT8996DW

SN74ABT8996DW

Опис: IC ADDRESSABLE SCAN PORT 24-SOIC

Виробники: Luminary Micro / Texas Instruments
В наявності
SN74ABT8646DWRE4

SN74ABT8646DWRE4

Опис: IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC

Виробники: Luminary Micro / Texas Instruments
В наявності
SN74ABT8646DWRG4

SN74ABT8646DWRG4

Опис: IC SCAN TEST DEVICE 28SOIC

Виробники: Luminary Micro / Texas Instruments
В наявності
SN74ABT8652DW

SN74ABT8652DW

Опис: IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC

Виробники: Luminary Micro / Texas Instruments
В наявності
SN74ABT8652DLR

SN74ABT8652DLR

Опис: IC SCAN TEST DEVICE 28-SSOP

Виробники: Luminary Micro / Texas Instruments
В наявності
SN74ABT8652DWR

SN74ABT8652DWR

Опис: IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC

Виробники: Luminary Micro / Texas Instruments
В наявності
SN74ABT8952DWR

SN74ABT8952DWR

Опис: IC SCAN TEST DEVICE 28SOIC

Виробники: Luminary Micro / Texas Instruments
В наявності
SN74ABT8952DL

SN74ABT8952DL

Опис: IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SSOP

Виробники: Luminary Micro / Texas Instruments
В наявності
SN74ABT8652DWRE4

SN74ABT8652DWRE4

Опис: IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC

Виробники: Luminary Micro / Texas Instruments
В наявності
SN74ABT8652DWRG4

SN74ABT8652DWRG4

Опис: IC SCAN TEST DEVICE 28SOIC

Виробники: Luminary Micro / Texas Instruments
В наявності
SN74ABT8952DW

SN74ABT8952DW

Опис: IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SOIC

Виробники: Luminary Micro / Texas Instruments
В наявності
SN74ABT8646DWR

SN74ABT8646DWR

Опис: IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC

Виробники: Luminary Micro / Texas Instruments
В наявності
SN74ABT8952DLR

SN74ABT8952DLR

Опис: IC SCAN TESST DEVICE 28-SSOP

Виробники: Luminary Micro / Texas Instruments
В наявності
SN74ABT8646DLR

SN74ABT8646DLR

Опис: IC SCAN TEST DEVICE 28-SSOP

Виробники: Luminary Micro / Texas Instruments
В наявності
SN74ABT8646DL

SN74ABT8646DL

Опис: IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SSOP

Виробники: Luminary Micro / Texas Instruments
В наявності
SN74ABT8646DW

SN74ABT8646DW

Опис: IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SOIC

Виробники: Luminary Micro / Texas Instruments
В наявності
SN74ABT8652DLG4

SN74ABT8652DLG4

Опис: IC SCAN TEST DEVICE 28-SSOP

Виробники: Luminary Micro / Texas Instruments
В наявності
SN74ABT8646DLG4

SN74ABT8646DLG4

Опис: IC SCAN TEST DEVICE 28-SSOP

Виробники: Luminary Micro / Texas Instruments
В наявності
SN74ABT8952DLRG4

SN74ABT8952DLRG4

Опис: IC SCAN TESST DEVICE 28-SSOP

Виробники: Luminary Micro / Texas Instruments
В наявності
SN74ABT8652DL

SN74ABT8652DL

Опис: IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SSOP

Виробники: Luminary Micro / Texas Instruments
В наявності

Оберіть мову

Клацніть на простір, щоб вийти